Placa de acero BV FH36
Descripción de productos Método de microscopía metalográfica Preparación de la muestra: En primer lugar, se debe cortar una muestra de un tamaño apropiado de la placa de acero BV FH36. El tamaño general es de alrededor de 10 mm × 10 mm × 10 mm. Luego, la muestra se muele y se pule. Para lijar se utilizan lijas de diferentes...
Descripción
Descripción de productos
Método de microscopía metalográfica
Preparación de muestras: En primer lugar, se debe cortar una muestra de un tamaño adecuado de la placa de acero BV FH36. El tamaño general es de alrededor de 10 mm × 10 mm × 10 mm. Luego, la muestra se muele y se pule. Para el pulido se pueden utilizar papeles de lija de diferentes granos. Comience con papel de lija de grano grueso (como la malla 200 -) y cambie gradualmente a papel de lija de grano fino (como la malla 1200 -) para obtener una superficie plana. El pulido se lleva a cabo utilizando un compuesto para pulir en una máquina pulidora para hacer que la superficie de la muestra tenga un acabado similar a un espejo.
Tratamiento de grabado: Para que los límites de los granos sean claramente visibles, es necesario grabar la muestra pulida. Un grabador comúnmente utilizado es una solución de ácido nítrico y etanol (la proporción de volumen de ácido nítrico a etanol es generalmente de aproximadamente 1:3). La muestra se sumerge en el grabador y el tiempo de grabado varía según el material y el grabador, oscilando normalmente entre unos pocos segundos y decenas de segundos. Después del grabado, la muestra se enjuaga con agua limpia y se seca.
Método de microscopía electrónica de barrido (SEM)
Preparación de muestras: La preparación de muestras es relativamente sencilla. El tamaño de la muestra cortada puede ser un poco más pequeño, aproximadamente 5 mm×5 mm×5 mm. Es necesario limpiar la superficie de la muestra para eliminar el aceite y las impurezas. Si es necesario observar el tamaño de grano de la superficie de fractura (por ejemplo, para estudiar el comportamiento de fractura del material), la muestra se puede fracturar mediante una prueba de tracción u otros métodos, y luego se puede observar directamente la superficie de fractura.
Observación y Análisis: La muestra se coloca en la cámara de muestras del microscopio electrónico de barrido. El haz de electrones escanea la superficie de la muestra y genera señales de electrones secundarias, y estas señales pueden formar una imagen de alta resolución en la pantalla. El rango de aumento del SEM es muy amplio, desde decenas hasta cientos de miles de veces. Al observar el tamaño del grano, se puede seleccionar una ampliación adecuada, como 1000 - 5000x, para que los granos sean claramente visibles. Mientras tanto, el software de análisis equipado con SEM puede medir y analizar estadísticamente automáticamente el tamaño del grano y puede obtener datos más precisos de la distribución del tamaño del grano.
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Composición química de alta resistencia BV/FH36 en templado y enfriamiento |
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Calificación |
El elemento máximo (%) |
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C |
Sí |
Minnesota |
P |
S |
Alabama |
N |
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|
BV/FH36 |
0.16 |
0.1-0.50 |
0.90-1.6 |
0.020 |
0.020 |
0.015 |
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Nótese bien |
V |
Tú |
Cu |
cr |
Ni |
Mes |
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|
0.02-0.05 |
0.05-0.10 |
0.02 |
0.35 |
0.2 |
0.8 |
0.08 |
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Método de difracción de dispersión (EBSD)
Adquisición y análisis de datos: La muestra preparada se coloca en un microscopio electrónico de barrido o en un analizador de sonda electrónica equipado con un sistema EBSD. Cuando el haz de electrones bombardea la superficie de la muestra, se generarán patrones de difracción de electrones por retrodispersión. Estos patrones de difracción se recopilan a través de un detector y se analizan mediante software profesional. La técnica EBSD no sólo puede medir el tamaño del grano sino también determinar la orientación del grano, el tipo de límite del grano y otra información. Al analizar el tamaño de grano, el software puede identificar automáticamente los límites de los granos según las características de los patrones de difracción y calcular el tamaño de grano, el factor de forma y otros parámetros, proporcionando abundantes datos para una comprensión integral de la microestructura del material.
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