Principio
Bases de la cristalografía: La técnica de difracción dispersada por respaldo de electrones (EBSD) se basa en el principio de difracción de Bragg de los planos cristalinos. Los átomos de un cristal están dispuestos regularmente. Cuando un haz de electrones irradia la superficie del cristal, se producirán fenómenos de difracción cuando se cumpla la Ley de Bragg (donde está el espaciado interplanar, es el ángulo de difracción, es el orden de difracción y es la longitud de onda del haz de electrones). Para materiales policristalinos como el acero, diferentes granos tienen diferentes orientaciones cristalográficas.
Imágenes de orientación: el sistema EBSD puede determinar la orientación cristalográfica de cada grano al recibir estos electrones difractados. En un microscopio electrónico de barrido (SEM), el haz de electrones escanea punto por punto en la superficie de la muestra y obtiene patrones de difracción en cada punto de escaneo. Estos patrones de difracción contienen información sobre la orientación del grano y pueden procesarse mediante software para mostrar la orientación del grano en forma de imagen, lo que se denomina mapa de imágenes de orientación (OIM).
Base para la medición del tamaño de grano: basándose en el mapa de imágenes de orientación, los límites de los granos se pueden determinar distinguiendo granos con diferentes orientaciones. Dado que la orientación dentro de cada grano es básicamente la misma y existe una diferencia de orientación entre los granos adyacentes, los límites de los granos se pueden identificar estableciendo un umbral de diferencia de orientación apropiado. Una vez determinados los límites de los granos, se puede calcular el tamaño de los granos. Por ejemplo, los parámetros geométricos tales como el diámetro circular equivalente del grano se pueden medir para caracterizar el tamaño del grano.

 

 

Configuración de parámetros del instrumento
Configuración del voltaje de aceleración: en un microscopio electrónico de barrido, se establece un voltaje de aceleración apropiado de acuerdo con las propiedades y los requisitos de análisis de la muestra de acero. Generalmente, para el acero, el voltaje de aceleración se puede establecer entre 15 - 30kV. Un voltaje de aceleración apropiado puede garantizar que el haz de electrones tenga suficiente energía para penetrar la superficie de la muestra y producir patrones de difracción claros.
Ajuste de la distancia de trabajo: la distancia de trabajo se refiere a la distancia desde el cañón de electrones hasta la superficie de la muestra y generalmente se ajusta entre 10 - 20 mm. Una distancia de trabajo adecuada puede permitir que el haz de electrones esté bien enfocado y favorece la recepción de buenas señales de difracción.
Selección del paso de escaneo: el paso de escaneo es la distancia entre dos puntos de escaneo adyacentes cuando el haz de electrones escanea la superficie de la muestra. Para muestras de acero con tamaños de grano más grandes, el paso de escaneo se puede establecer un poco más grande, como {{0}}μm; para muestras con tamaños de grano más pequeños, el paso de escaneo debe establecerse en un tamaño más pequeño, por ejemplo, 0,1 - 1μm, para garantizar una identificación precisa de cada grano.
Adquisición de datos
Instalación de la muestra: La muestra preparada se instala en la etapa de muestra del microscopio electrónico de barrido, asegurando que la muestra esté firmemente fijada y tenga buena conductividad eléctrica.
Iniciar escaneo: se inicia el programa de escaneo y el haz de electrones escanea punto por punto en la superficie de la muestra de acuerdo con el paso de escaneo establecido. En cada punto de escaneo, el detector EBSD recibe los electrones difractados, los convierte en señales eléctricas y luego los amplifica y digitaliza para registrar la información del patrón de difracción de cada punto de escaneo.

 

 

 

 

 

Especificaciones que suministramos:

Espesor	3-200mm
Ancho	1500-4000mm
Longitud	5000-15000mm

 

 

 

Procesamiento y análisis de datos
Indexación de patrones: los datos de patrones de difracción recopilados primero deben indexarse ​​en patrones, es decir, comparándolos con los patrones de difracción estándar en la base de datos cristalográfica conocida para determinar la orientación cristalográfica correspondiente a cada punto de escaneo. Este proceso se completa mediante un software de análisis EBSD dedicado. El software coincidirá con la orientación cristalográfica más probable según la posición y la intensidad de los puntos de difracción.
Reconstrucción de grano: según la información de orientación de los puntos de escaneo y el umbral de diferencia de orientación establecido (normalmente, para el acero, el umbral de diferencia de orientación se establece entre 10 - 15 grados), el software se utiliza para identificar los límites del grano y dividir los puntos de escaneo con orientaciones iguales o similares en un grano, reconstruyendo así la forma del grano.
Cálculo del tamaño de grano: una vez reconstruidos los granos, se pueden utilizar las herramientas del software para calcular el tamaño de grano. Por ejemplo, se pueden calcular parámetros como el área y el perímetro de cada grano, y luego calcular el diámetro circular equivalente y otros indicadores que caracterizan el tamaño del grano. Al mismo tiempo, también se pueden realizar análisis estadísticos del tamaño de grano, como calcular el tamaño medio de grano y la distribución granulométrica.

 

 

 

 

 

 

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